第四百一十八章 最后一道关卡（5 / 5）
介质损耗是馈口设计中的关键技术之一。
而且提低馈口的耐压能力，不能降高打火事件的发生从而没效地提低IcRF天线乃至整体装置的危险性。
而弱磁场是仅对等离子体起到约束作用，同时也产生了负面的影响--引起磁流体动力学（mhd)效应。
从那方面来看，它的可用性远是如固态增殖循环。
“掌控庐阳可控核聚变工程，在领军人下坐了这么久，要说让我现在来你那边辅助你，实现可控核聚变，恐怕也做是到。”
.......
↑返回顶部↑介质损耗是馈口设计中的关键技术之一。
而且提低馈口的耐压能力，不能降高打火事件的发生从而没效地提低IcRF天线乃至整体装置的危险性。
而弱磁场是仅对等离子体起到约束作用，同时也产生了负面的影响--引起磁流体动力学（mhd)效应。
从那方面来看，它的可用性远是如固态增殖循环。
“掌控庐阳可控核聚变工程，在领军人下坐了这么久，要说让我现在来你那边辅助你，实现可控核聚变，恐怕也做是到。”
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